Новость

00:00
Со страниц China Science Daily
Со страниц China Science Daily
...
Новости
12:29, 9 Апр

Исследователи используют искусственный интеллект для выявления атомных дефектов в материалах

Ученые из MIT создали ИИ-модель, способную обнаруживать и классифицировать до шести различных точечных дефектов в материалах одновременно, что невозможно с помощью традиционных методов

研究人员利用人工智能揭示材料中的原子缺陷—新闻—科学网
news.sciencenet.cn

Короткое резюме

Исследователи из Массачусетского технологического института разработали модель искусственного интеллекта, которая может классифицировать и количественно оценивать атомные дефекты в материалах, используя данные неинвазивной нейтронной дифракции. Модель, обученная на 2000 различных полупроводниковых материалах, способна одновременно обнаруживать до шести типов точечных дефектов, что является прорывом по сравнению с традиционными технологиями.

Модель была создана на основе вычислительной базы данных, где для каждого материала были подготовлены пары образцов — с дефектами и без. Используя данные о колебаниях атомов, полученные методом нейтронного рассеяния, исследователи обучили модель на основе механизма многоголового внимания, аналогичного тому, что используется в ChatGPT. Модель анализирует различия между дефектными и бездефектными материалами и предсказывает тип и концентрацию легирующих примесей.

Разработка открывает новые возможности для более точного контроля и использования дефектов в полупроводниках, микроэлектронике, солнечных элементах и аккумуляторных материалах. Модель уже успешно протестирована на экспериментальных данных, включая сплавы для электроники и сверхпроводящие материалы, демонстрируя способность обнаруживать дефекты с концентрацией всего 0.2%. Исследователи считают, что их работа подтверждает фундаментальные преимущества ИИ в анализе дефектов материалов.

Ключевые выводы
Многоцелевое обнаружение дефектов

ИИ-модель способна одновременно идентифицировать до шести различных типов точечных дефектов в материале, что невозможно с помощью традиционных неразрушающих методов

Высокая чувствительность

Модель может обнаруживать дефекты с чрезвычайно низкой концентрацией — всего 0.2%, что позволяет анализировать материалы с высокой точностью

Широкая применимость

Базовая модель охватывает 56 элементов из периодической таблицы и была успешно протестирована на полупроводниках, электронных сплавах и сверхпроводящих материалах

Использование передовых архитектур ИИ

В модели применён механизм многоголового внимания (multi-head attention), аналогичный используемому в крупных языковых моделях, таких как ChatGPT, для эффективного извлечения и анализа данных

Текст сгенерирован с использованием ИИ

искусственный интеллект, машинное обучение, полупроводники, материаловедение, атомные дефекты, нейтронное рассеяние
1

Рекомендации по теме

Комментарии

Логотип "Голос Науки"
Главная
Поддержать проект
Разделы
Быстрый доступ
  • Интервью автора
  • Видеоаннотации
Спонсор
* не является рекламой
Презентация
Информация

    тел.: 8 (800) 350 17-24email: office@golos-nauki.ru
    Регистрация
    Со страниц China Science DailyЛента новостей
    Другие новости