News

00:00
Со страниц China Science Daily
Со страниц China Science Daily
...
News
12:29, 9 Apr

Исследователи используют искусственный интеллект для выявления атомных дефектов в материалах

Ученые из MIT создали ИИ-модель, способную обнаруживать и классифицировать до шести различных точечных дефектов в материалах одновременно, что невозможно с помощью традиционных методов

研究人员利用人工智能揭示材料中的原子缺陷—新闻—科学网
news.sciencenet.cn

Short Summary

Исследователи из Массачусетского технологического института разработали модель искусственного интеллекта, которая может классифицировать и количественно оценивать атомные дефекты в материалах, используя данные неинвазивной нейтронной дифракции. Модель, обученная на 2000 различных полупроводниковых материалах, способна одновременно обнаруживать до шести типов точечных дефектов, что является прорывом по сравнению с традиционными технологиями.

Модель была создана на основе вычислительной базы данных, где для каждого материала были подготовлены пары образцов — с дефектами и без. Используя данные о колебаниях атомов, полученные методом нейтронного рассеяния, исследователи обучили модель на основе механизма многоголового внимания, аналогичного тому, что используется в ChatGPT. Модель анализирует различия между дефектными и бездефектными материалами и предсказывает тип и концентрацию легирующих примесей.

Разработка открывает новые возможности для более точного контроля и использования дефектов в полупроводниках, микроэлектронике, солнечных элементах и аккумуляторных материалах. Модель уже успешно протестирована на экспериментальных данных, включая сплавы для электроники и сверхпроводящие материалы, демонстрируя способность обнаруживать дефекты с концентрацией всего 0.2%. Исследователи считают, что их работа подтверждает фундаментальные преимущества ИИ в анализе дефектов материалов.

Key Takeaways
Многоцелевое обнаружение дефектов

ИИ-модель способна одновременно идентифицировать до шести различных типов точечных дефектов в материале, что невозможно с помощью традиционных неразрушающих методов

Высокая чувствительность

Модель может обнаруживать дефекты с чрезвычайно низкой концентрацией — всего 0.2%, что позволяет анализировать материалы с высокой точностью

Широкая применимость

Базовая модель охватывает 56 элементов из периодической таблицы и была успешно протестирована на полупроводниках, электронных сплавах и сверхпроводящих материалах

Использование передовых архитектур ИИ

В модели применён механизм многоголового внимания (multi-head attention), аналогичный используемому в крупных языковых моделях, таких как ChatGPT, для эффективного извлечения и анализа данных

Text generated using AI

искусственный интеллект, машинное обучение, полупроводники, материаловедение, атомные дефекты, нейтронное рассеяние
1

Recommendations on the topic

Comments

Golos Nauki Logo
Home page
Support Project
Sections
Быстрый доступ
  • Author's interview
  • Video Abstracts
Sponsor
* is not an advertisement
Presentation
Information

    Phone: 8 (800) 350 17-24email: office@golos-nauki.ru
    Sign Up
    Со страниц China Science DailyNews Feed
    Other News